日置阻抗凯发国际官网首页IM3570-凯发国际
產品描述
1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
● 基本精度±0.08%的高精度測量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
● 凯发k8国际模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
● 可以用于無線充電評價系統TS2400
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測量模式 |
LCR（LCR測量），凯发k8官方旗舰店（掃描測量），連續測量 |
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測量參數 |
Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
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測量量程 |
100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數由Z確定） |
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顯示范圍 |
Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示絕對值 |
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基本精度 |
Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
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測量頻率 |
4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進） |
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測量信號電平 |
V模式，CV模式（普通模式） |
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輸出阻抗 |
普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω |
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顯示 |
彩色TFT5.7英寸，可設置顯示ON/OFF |
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測量時間 |
0.5ms（100kHz，FAST，顯示OFF，代表值） |
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測量速度 |
FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
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其他功能 |
DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能 |