半導體測試系統-深圳市凯发国际科技有限公司

Keithley 4200A-SCS半導體測試儀系統-凯发国际

使用4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。業內領先性能參數凯发k8国际，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。
Keithley 4200-SCS型半導體特性分析系統-凯发国际

4200-SCS系統是用于器件、材料和半導體工藝電氣特性分析的完整解決方案
Keithley 2600系列半導體測試系統-凯发国际

開發和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級檢定，如擊穿電壓、通態電流和電容測量。
Keysight B1505A 功率器件凯发国际官网首页-凯发国际

Keysight B1505A 功率器件凯发国际官网首页曲線追蹤儀是唯一能夠對 sub-pA 電平至 10 kV 和 1500 A 的高功率器件進行表征的綜合解決方案。
ITC57300動態參數測試系統-凯发国际

可在絕緣柵雙極晶體管（IGBT），功率MOSFET，二極管和其他雙極器件之類的半導體器件上執行無損瞬態測量

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