4200-SCS型半導體特性分析系統
測試數據以業界標準的電子表格格式進行存儲。所有測量或計算的數據都可以用KITE最先進的繪圖工具繪制出來。
應用
對各種器件進行精密直流I-V測量，例如：
l CMOS MOSFET和器件
l 雙極型器件
l 二極管和pn結
l 太陽能電池
l 納米器件
l 幾乎可想到所有其他材料和器件
4210— CVU C — V 儀器提供了所有商用 C-V 測量解決方案中最全面的 C-V 測試和分析庫。它支持：
l 下列器件的C-V、 C-t 和 C-f 測量與分析：
- 太陽能電池，包括 DLCP
- 高 K 和低 K 結構
- MOSFET
- BJT
- 二極管
- III-V族化合物器件
- 碳納米管（ CNT ）器件
l 摻雜濃度，Tox和載流子壽命測試
l 半導體結、器件管腳到管腳以及連接線電容測量。
4225-PMU超快 I-V 模塊能夠實現的脈沖式和瞬態測試范例包括：
l 超快通用I-V測量
l 脈沖式I-V和瞬態 I-V 測量
l Flash、 PCRAM 和其他一些非易失性存儲器測試
l 中功率器件的等溫測試
l 特殊CMOS的器件分析，例如高 K 介質的測試
l NBTI/PBTI可靠性測試
多測量線纜
吉時利提供了唯一一套支持I-V、 C-V 和超快 I-V 信號的探測線纜套件。利用這些高性能線纜套件進行直流 I-V 、 C-V 和超快 I-V 測試時，在從一種類型測量變為另一種時不需要重新布線，從而簡化了配置之間的切換過程。這種設計已申請專利，對于每次測試改變連接線纜不需要抬起探針。使用這些三軸線纜可以幫助用戶：
l 每當需要一種新型的測量時，避免從測試儀器到探測臺重新進行連線，從而節省了時間。
l 防止在難度較大的線纜連接過程中經常出現的錯誤，從而防止了錯誤連線所造成的測量誤差。
l 在配置改變的同時探針保持與晶圓的接觸，減少了晶圓pad損壞。這也使得用戶在每類測量下都能夠保持相同的接觸阻抗。
進一步簡化
利用吉時利的4225-RPM遠程放大器 / 開關在 I-V 、 C-V 和超快 I-V 測量之間進行切換時，用戶不需要在機箱內壁重新連線。機箱內所有的儀器連接都接入開關，自動實現目標測試模塊到探針之間的連接。