協議感知(Protocol-Aware)ATE將影響半導體的測試

現在的半導體器材變得更加的雜亂，高檔的片上體系(SoC) 和封裝體系 (SiP) 比較典型的基于矢量的器材測驗而言，需要更為雜亂的體系級的功用測驗。現在器材的功用也不再是經過簡單的并行數字接口完成，而是更多的依賴于高速串行總線和無線協議進行輸出，這就請求測驗設備和器材之間可以在指定的時鐘周期內完結高速的激勵和呼應測驗。

雜亂的測驗需要催生了協議感知(Protocol-Aware)ATE 的誕生， Andrew Evans 在 2007 世界測驗會議 (ITC) 上宣布的論文“ The New ATE - Protocol Aware ”中首次提出了這個概念。這是一種仿照器材實在運用環境 ( 包含外圍接口 ) 的辦法，依照器材希望的運用方法，進行有針對性的器材功用測驗和驗證。

世界半導體測驗協會(STC) 和新近建立的半導體測驗協作聯盟 (CAST) 都在思考為自動化測驗廠商擬定敞開的測驗架構以滿足日益添加的半導體測驗需要和下降測驗成本。 NI 作為 STC 協會便攜式測驗儀器模塊 (PTIM) 工作組的主席，正在致力于創立一種新的指南和規范，使得工程師可以將第三方的模塊化測驗儀器 ( 如 PXI) 集成到傳統的半導體 ATE 中，以完成更為靈敏自定義、契合“協議感知”請求的半導體測驗體系。