是德科技網絡凯发国际有源器件的評測-凯发国际

有源器件的評測

測量挑戰

是德科技網絡凯发k8官方旗舰店 能夠用來表征和測試有源器件，例如放大器、混頻器和頻率轉換器 。它們可輕松進行放大器的常規參數測量，例如增益、增益與相位壓縮、隔離度、回波損耗和群時延。諧波失真常用于了解放大器的非線性特性，接收機有時需要工作在與激勵源不同的頻率上。由于頻率轉換器件的輸入頻率和輸出頻率不同，例如混頻器和頻率轉換器，因此，精確地對頻率變換器件進行測量具有很大的挑戰性。用于測量這些器件的網絡凯发国际官网首页必須具有頻偏模式（FOM），才能夠勝任測量這種輸入頻率和輸出頻率不相同的器件的任務。有時，可能還需要使用其他儀器和信號調節器件來進行雙音測量、大功率器件測量、噪聲系數測量、 ACP 和 EVM 等其他類型的測量因此，測量系統變得越來越復雜或者完成一個放大器的測量需要多個不同的測量工位。

是德科技解決方案

是德科技提供廣泛的使用靈活、價格經濟的測試解決方案，對有源元器件進行矢量網絡分析。 是德科技網絡凯发国际VNA專為線性和非線性器件表征而設計，具有極高的精度。除了高性能優勢之外，多款測量應用軟件可簡化設置、縮短測試時間并提高測量精度。

是德科技網絡凯发官网入口主要特性

- 放大器增益、匹配和隔離:S參數測量 AM-AM 和 AM-PM 轉化 : 功率掃描，信號源和接收機校準

- 大功率/脈沖可配置性 : 可配置的測試座、大輸出功率、信號源和接收機衰減器、內置脈沖發生器、外部脈沖發生器控制、內置脈沖調制器

- 頻率轉換器變頻增益/損耗 :FOM 、信號源和接收機校準、標量混頻器校準頻率轉換器轉換相位 / 群時延 :FOM 、幅度和相位校準、矢量混頻器校準

- LO驅動 / 測量 : 第二個內部信號源、外部射頻源控制、三端口校準和測量、 LO 功率校準

混頻器拓撲:掃描射頻、掃描 / 固定 LO （固定 F/ 掃描 IF ）、雙級變頻器、配有內置 LO 的變頻器

- 精確的信號源輸出功率和絕對功率測量:信號源和接收機校準、功率傳感器失配校正、接收機電平調節

- 諧波失真:FOM、信號源和接收機校準、較低的信號源諧波、接收機衰減器互調失真（ IMD ） :FOM 、第二個內部信號源、外部信號源控制、內置信號合成網絡、掃描 MD 噪聲系數測量

- Hot-S22測量 :FM 、第二個內置信號源、內置信號合成網絡功率附加效率 : 直流輸入和 / 或直流電表控制

- 直流偏置:內部直流偏置源 / 直流源控制 / 內置直流偏置電路

- 非線性矢量網絡分析（NVNA） : 波形分析、參數